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xdlm 237 -菲希爾x射線熒光測厚儀代理 有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。

無損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無論是在實驗室還是工業生產環境中，這一方法都能完美勝任，并還可以與現代化設備一起發揮作用。

*費希爾x-ray xan x射線熒光測量儀 X-RAY XAN 220是一種優化的X射線熒光測量儀器，用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯（17）到鈾（92）范圍內可同時測定多達24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。

XDAL237 X射線熒光測厚儀 憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設計上，FISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應。

xan500fischer德國* 手持式、臺式、在線： XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設備。它既可以作為手持式設備使用，也可以作為封閉式的臺式機或是直接整合到生產線中。

便攜式x射線測厚儀* XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設備。它既可以作為手持式設備使用，也可以作為封閉式的臺式機或是直接整合到生產線中。在配備了平板電腦后，XAN500同樣采用久經考驗的WinFTM軟件。基于基本參數法的WinFTM軟件不僅能進行材料分析，還能測量鍍層厚度，并可實現無校準（不需標準片）測量。

菲希爾X射線測量系統 菲希爾在生產過程實行嚴格的質量標準控制，在對零部件進行苛刻的檢驗，確保菲希爾X射線儀器有著很高可靠性。