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德國FISCHER公司X-RAY熒光測厚儀 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統有超過17年的經驗。 通過對所有相關過程包括X射線熒光測量法的精確處理和使用了新的軟件和硬件技術，FISCHER 公司的X射線儀器具有其*的特點

德國Fischer x射線測厚儀 XULM 240代理 XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為Ø0.25mm的準直器測量，20秒的重復精度可達2.5nm。

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菲希爾X射線測厚儀XDL230 FISCHER，臺式上照式 EDXRF 鍍層測厚 / 材料分析儀，XDL 系列中端主力機型，手動 XY 平臺 + 電動 Z 軸，兼顧小件批量檢測、異形件、PCB、電鍍件無損測厚，符合 ISO 3497、ASTM B568 行業標準，全輻射防護認證。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL240，德國 Helmut Fischer 全自動臺式 EDXRF 鍍層測厚 / 元素分析儀，XDL 系列頂配自動化機型，對標 XDL210/220/230，核心優勢是電動可編程 XY + 雙速電動 Z 軸，適合大批量、多測點、PCB、連接器、電鍍件全自動無損測厚與材質分析。

菲希爾XDL230 X射線鍍層測厚儀，同系列區分： XDL210：固定臺面 + 固定 Z 軸，簡易基礎款 XDL220：固定臺面 + 電動 Z 軸，無 XY 移動 XDL230：手動 XY 平臺 + 電動 Z 軸（市面通用） XDL240：全自動電動 XY，適合批量自動化檢測

菲希爾進口X熒光射線測厚儀XDL 菲希爾X射線測厚儀，測量精度非常高，根據用戶的實際情況進行選配定制