泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC DUO信息

更新時間：2026-07-14

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泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC DUO測量原理與測頭配置

傳感：壓電式傳感器，機動滑行掃描（帶基準導塊 Skidded，自帶機械濾波，無需額外調平）

測針：金剛石針尖，半徑 5μm，測力 200mg，耐磨穩定，通用絕大多數金屬加工件

掃描行程：標準 5mm，掃描速度 2mm/s，單次測量 5 秒內出完整數據 + 輪廓曲線

泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC DUO關鍵技術參數

1. 量程與精度

垂直分辨率：0.01μm

Ra 測量范圍：0~40μm

Rz/Rt/Rp/Rv 范圍：0~199μm

準確度：讀數 ×5% + 0.1μm

重復精度：讀數 ×2% + 底噪 0.1μm

Ra、Rz、Rz1max、Rp、Rv、Rt、Rq、Rsk、Rku、Pa、Pz、Pp、Pv、Pt 等 18 項常用粗糙度參數，屏幕同步顯示數值 + 二維輪廓曲線圖

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