菲希爾金屬鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230信息

更新時間：2026-07-14

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菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心硬件參數

1. X 射線發射系統

射線管：鎢靶鈹窗口，最大功率 120W

高壓三檔可調：30kV / 40kV / 50kV，適配薄鍍層 / 厚金屬 / 重元素

準直器：標配 φ0.3mm 圓形；可選 φ0.1/0.2mm、矩形 0.3×0.05mm

最小測量光斑：φ0.2mm（搭配 φ0.1 準直器），適配微小焊盤、連接器引腳

2. 樣品臺與定位（XDL230 核心優勢）

手動 XY 行程：95mm × 150mm，工作臺有效區域 420×450mm，可放整版 PCB、大五金件

電動 Z 軸升降：總行程 140mm，自動 / 手動雙模式聚焦

DCM 距離補償技術：0–80mm 深度盲孔、腔體零件無需墊高，遠距離精準測量

視覺系統：40–160 倍高清 CCD 彩色相機 + LED 環形燈 + 激光十字定位，實時觀察測量點位

3. 探測與分析能力

探測器：高計數率比例計數器，信號穩定、測量速度快

元素范圍：Cl (17) ~ U (92)，可同步檢測24 種元素、最多 23 層復合鍍層

厚度量程：納米級超薄鍍層至毫米級金屬涂層全覆蓋

測量精度：鍍層≥0.5μm 時頂層誤差≤5%；重復測試變異系數＜0.5%

基礎參數法 FP：內置 12 種純元素標準譜庫，無標準片也可直接建模測量；MQ 匹配值提示避免程式選錯樣品基體

4. 機身電氣尺寸

整機尺寸：570×760×650 mm（寬 × 深 × 高）

重量：107 kg

防護等級：IP40

供電：220V 50Hz，最大功耗 120W（不含配套電腦）

工作環境：10–40℃，濕度≤95% 無凝露

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