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fischerscope膜厚儀代理 FISCHERSCOPE X-RAY XDL /XDLM系列與XUL/XUUM系列密切相關:兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。

DUALSCOPE MP40+EDX10探頭測量雙層涂層 DUALSCOPE®MP40E-S是一款操作簡便的鍍層厚度測量和靈活的數據采集設備。DUALSCOPE MP40用EDX10探頭測量雙層（鐵上的漆層或漆層/鋅層）。MP40在一個類似于MP20的手持式儀器中結合了磁感應和渦流兩種方法。

菲希爾（Fischer）MMS PC2多功能模塊測厚儀 FISCHERSCOPE MMS PC2具有數據采集和測量數據處理能力，是一臺結構小巧且適用范圍廣泛的多功能桌上測量系統。它既可以用來進行手動的樣品來料檢驗，也可以用于過程控制和對產品線進行24小時地監控。

MiniTest 725/735/745測厚儀/FN1.5探頭 德國epk（ElektroPhysik）在表面處理行業的無損涂層測厚儀制造上有著超 過60年的悠久傳統。 典型應用于: 鐵基體上的非磁性涂層如油漆、清漆、搪瓷、鍍鉻和鍍鋅; 或者有色金屬上如銅，鋁，壓鑄鋅，黃銅 等的絕緣涂層如油漆、陽極氧化膜層或陶瓷。

DUALSCOPE MP0R/ MP0R-FP袖珍式鍍鋅測厚儀 DUALSCOPE® MP0R 和 MP0R-FP 帶有一個集成探頭或一個延長型探頭，適用于測量幾乎所有金屬基材上的涂鍍層厚度。配有兩個顯示屏、一個特別堅固的外殼和耐磨損的探頭，它們是 可以直接用于現場可靠測量的理想設備。

MMS Automation涂層厚度/電導率自動化測量 模塊化的測量系統FISCHERSCOPE®MMS®是自動化在線測量涂層厚度和材料測試的正確解決方案。由于接口的標準化，它可以快速集成到質量管理系統和自動化生產過程中。您是選擇在工業機器人用一個探頭測量

電鍍層測厚儀phascope pmp10/pmp10 duplex PHASCOPE® PMP10主要用于在電鍍和PCB行業中對各種基材上的金屬鍍層的厚度進行質量控制。無論樣品表面是否平滑，PMP10都可以準確測量鐵基材上的鍍鎳層、鍍銅層和鍍鋅層的厚度；它還能對印制電路板上的銅層厚度，甚至是孔內銅層的厚度進行測量。

菲希爾代理FISCHERSCOPE UMP20/40/100 UMP20測量范圍： 0.5 mm - 508 mm，保持模式和凍結模式（可升級） UMP40回波-回波測量模式，按鍵發光和振動， 保持模式，凍結模式和聲速模式（可升級） UMP100彩色顯示實時波形， 數據儲存功能，按鍵發光和振動，保持模式，凍結模式和聲速模式（可升級）