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菲希爾DualScope MP0膜厚儀資料X載 ----涂鍍層測厚儀DUALSCOPE® MP0—在鐵磁性及非鐵磁性金屬上簡便、高精度測量涂鍍層厚度的理想選擇

Helmut Fischer膜厚儀探頭怎么選介紹： 鍍層/底材的種類是選擇探頭重要的依據(jù)。另外，鍍層的大致厚度、底材的材料、測量點(diǎn)的面積以及樣品的形狀和表面情況都是選擇探頭時(shí)需要考慮的因素。

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MPO涂層測厚儀 DUALSCOPE MP0R USB 采用根據(jù)DIN EN ISO 2360，ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法和DIN EN ISO 2178，ASTM B499電磁感應(yīng)方法，被用來測量非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上的厚度以及非鐵金屬鍍層和非導(dǎo)電涂層在鐵或鋼上的厚度。

多層鎳測厚儀品牌--Couloscope CMS2 STEP 庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。