FISCHER X射線測(cè)厚儀 xan215信息

更新時(shí)間：2026-02-12

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FISCHERSCOPE X-RAY XAN215菲希爾X射線測(cè)厚儀是德國(guó)菲希爾 (Helmut Fischer) 推出的入門級(jí)經(jīng)濟(jì)型 X 射線熒光測(cè)厚儀，專為珠寶、錢幣和貴金屬的無(wú)損成分分析與鍍層厚度測(cè)量設(shè)計(jì)，具備高性價(jià)比、操作簡(jiǎn)便、精度可靠的特點(diǎn)，符合 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN215菲希爾X射線測(cè)厚儀核心定位與測(cè)量原理

核心定位：高性價(jià)比入門級(jí) XRF 測(cè)厚儀，專注于貴金屬分析與鍍層測(cè)厚，特別適合金、銀等簡(jiǎn)單合金

測(cè)量原理：采用能量色散 X 射線熒光光譜法 (EDXRF)，基于基本參數(shù)法 (FP 法)，無(wú)需標(biāo)準(zhǔn)片即可測(cè)量多種鍍層系統(tǒng)

無(wú)損檢測(cè)：非接觸式測(cè)量，不損傷樣品表面，適合高價(jià)值珠寶和精密零件

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